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快速溫變化試驗設備非線性2度測試 快速溫變化試驗設備的溫度范圍可選擇：-70℃~+150℃，-60℃~+150℃，-40℃~+150℃，-20℃~+150℃，0℃~+150℃；可選擇適合自己產品常用的溫度范圍。升降溫速率也可根據客戶的要求定制。濕度范圍：20%~98%；RH相對溫濕度可調范圍請參考溫濕度范圍圖

快速溫變箱半導體溫度循環試驗- 40 ~ 85°C 此快速溫變箱專為半導體溫度循環測試設計。它能精準在 -40~85°C 間循環切換溫度，模擬極-端溫度變化環境。箱內溫度均勻度高，升降溫速率快，可有效檢測半導體在溫度交變下的可靠性。采用控制系統和優質制冷、加熱部件，保障試驗的穩定與準確，是半導體行業確保產品質量，評估其在復雜溫度環境下性能的得力設備

快速溫變箱半導體低溫試驗 功能- 55°C檢測 快速溫變箱的 - 55°C 半導體低溫試驗功能十分重要。 可精準模擬低溫環境。箱內溫度控制精確，能確保整個試驗空間溫度均勻性良好，讓半導體在低溫下得到充分測試。其采用高效制冷系統，能快速達到 - 55°C 低溫。在半導體生產中，此功能有助于檢測產品在極寒條件下的性能，如是否出現參數漂移、功能失效等問題，是保障半導體低溫可靠性的關鍵檢測手段。

快速溫變箱半導體低溫試驗 功能- 40°C。在進行 - 40℃低溫試驗時，它能快速且精準地將箱內溫度降至設定的 - 40℃。箱內采用的溫度控制系統，確保溫度均勻度高、波動小，能準確模擬半導體產品在極寒環境下的工作狀況。其具備高效的制冷系統，可快速降溫，升降溫速率可達每分鐘數度甚至更高，滿足不同的測試需求。并且，設備還擁有良好的保溫性能，防止熱量散失，保證試驗的穩定性和可靠性。

半導體快速溫變箱 高溫試驗 功能85℃。在該高溫環境下，它能夠精準模擬極-端工況，對半導體產品進行嚴格測試。此功能確保半導體在高溫條件下的性能穩定性、可靠性得到準確評估。箱內溫度控制精確，升溫迅速且均勻，避免局部過熱現象。通過在 85℃下的試驗，能及時發現半導體潛在的性能缺陷，如參數漂移、材料性能變化等，為半導體產品在高溫應用場景中的質量保障提供了有力支撐。